便攜式重金屬分析儀采用XRF光譜技術(shù)，可以在定量的同時對物質(zhì)中的特殊元素進行鑒別。可根據(jù)X射線的發(fā)射波長(λ)和能量(E)確定特定元素，而該元素的數(shù)量可由相應(yīng)射線的密度來確定。因此，XRF度普術(shù)可以測量出物質(zhì)的成分。
 

　　每個原子都有自己固定數(shù)目的電子(負電粒子)，它們圍繞核子運行。它的電子量相當于核子中的質(zhì)子(正電粒子)量。我們可以根據(jù)周期表上的原子數(shù)來知道質(zhì)子數(shù)。
 

　　每個原子的數(shù)目都對應(yīng)著固定的元素名稱，比如鐵，元素的名字叫Fe，原子的數(shù)目是26。能色散X螢光和波長色散X螢光光譜分析技術(shù)主要研究和應(yīng)用在最里層的三個電子軌道，即K、L、M,K軌道接近核子，每一個電子軌道對應(yīng)一個特定的能層。
 

　　當便攜式重金屬分析儀工作時，X光發(fā)射器發(fā)出的高能量初級射線光子會撞擊樣品元素。這類原始光子包含了足夠的能量，能使里層，即K層或L層的電子偏離軌道。此時原子變成了不穩(wěn)定的離子。因為電子本能地尋求穩(wěn)定，外層的L或M電子就會進入空間以彌補內(nèi)層。當這些電子從外層進入到內(nèi)層時，它們釋放能量，我們稱之為二次X射線光子。
 

　　這個過程叫做螢光輻射。每一種元素的次級射線都有其特點。但是，X射線光子螢光輻射所產(chǎn)生的能量，是由電子在轉(zhuǎn)換過程中內(nèi)外層能量差異所決定的。舉例來說，鐵原子Fe的能量Kα約為6.4電子伏。某一特定元素在某一時刻發(fā)出的X射線的數(shù)量或密度，可以用來測量該元素的數(shù)量。XRF能量分布的典型光譜顯示出不同能量下光子密度的分布。
 

　　便攜式重金屬分析儀應(yīng)用情況
 

　　基于X射線原理研制的便攜式重金屬分析儀，主要用于航天、鋼鐵、石化、電力、醫(yī)藥等行業(yè)金屬材料中元素成分的現(xiàn)場測定。歐潤智能小編認為在伴隨著世界經(jīng)濟崛起的工業(yè)和*事制造業(yè)中，快速識別成分是不可少的工具。